顯微鏡法清潔度測試與(yu) 掃描式清潔度是顆粒物清潔度測試兩(liang) 種主要的測試方法，關(guan) 於(yu) 兩(liang) 種測試手段的爭(zheng) 論目前還在繼續，本文主要簡單介紹顯微鏡法清潔度測試與(yu) 掃描式清潔度測試對比
傳(chuan) 統顯微鏡式顆粒清潔度儀(yi) 是通過在濾膜上畫格，逐格局部放大顆粒，然後用軟件將局部圖拚接成大圖。據某發動機公司反映，顯微鏡式測試每次需花費20分鍾至40分鍾(不計前處理)，難以應付普通的測試量(一天10個(ge) 樣品)，經常要加班。 而且其配置的軟件不可根據客戶的測試標準不同進行不同的尺寸分級。
顯微鏡式顆粒清潔度儀(yi) 的微距需定期上門或發回供應商處校準(多數為(wei) 一年校準一次)，否則，當微距出現小至微米級的偏差時，就會(hui) 將每格邊緣的顆粒或較大顆粒裂解成多個(ge) 顆粒，造成結果不準確。
顯微鏡掃描時造成的顆粒物裂解現象
上圖表明，用高倍數顯微鏡掃描時，每格隻有2微米，所以顯微鏡的移動軸承即使用0.1微米的誤差，也會(hui) 造成顆粒物裂解。
同時，人為(wei) 調焦也是影響結果準確性的一個(ge) 主要因素。某發動機公司的反饋結果是，當焦距調遠時，可見顆粒數量會(hui) 減少，當焦距調近時，顆粒數量會(hui) 增加，因此，其結果的客觀性值得懷疑。
MicroQuick 采用高精度掃描儀(yi) 整體(ti) 掃描濾膜法打破了以往的顯微鏡式顆粒清潔度儀(yi) 需在濾膜上畫格逐一觀察的方法。其操作簡單快速，2.5分鍾即完成掃描並分析，自動的操作方式對操作人員要求低，無需專(zhuan) 業(ye) 人員進行類似顯微鏡法的調焦、調光等動作。，同時，德國RJL公司根據其豐(feng) 富的檢測經驗設計出的專(zhuan) 業(ye) 分析軟件，依靠高精度掃描儀(yi) 的配合，快速輸出的科學可靠的顆粒清潔度數據並全自動生成審計報告。此外，Micro Quick顆粒物清潔度儀(yi) 可由客戶自行檢查和校準，無需服務人員上門，省錢又省心。
