三廂式溫度衝(chong) 擊試驗箱能模擬高溫與(yu) 低溫之間的瞬間變化環境，用於(yu) 確定裝備在經受周圍大氣溫度的急劇變化時，是否產(chan) 生物理損壞或性能下降。是航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備，考核和確定檢測儀(yi) 器、機械、電工、電子產(chan) 品整機及零部件等在進行高低溫衝(chong) 擊試驗後的參數及性能。
GB/T2423.1﹣2001 試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2﹣2001 試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.22﹣2001 試驗N：溫度變化試驗方法
GJB150.3A-2009 高溫試驗
GJB150.4A-2009 低溫試驗
GJB150.5A-2009 溫度衝(chong) 擊試驗
TST200W-55溫度衝(chong) 擊試驗箱無法用於(yu) 以下情況的測試：
易燃、易爆、易揮發性物質試樣的試驗或儲(chu) 存
腐蝕性物質試樣的試驗或儲(chu) 存
生物試樣的試驗或儲(chu) 存
強電磁發射源試樣的試驗或儲(chu) 存
TST200W-55三廂式溫度衝(chong) 擊試驗箱有RJ-45接口，具有本地和遠程通訊功能，安裝好本公司提供的軟件後，在控製軟件中可以對設備進行遠程監控，可以對設備進行編程、開機和停機等操作，通過該軟件可以記錄試驗過程中的數據和曲線，並可以根據需要打印該數據和曲線。
曲線實時存儲(chu) ，可顯示當前曲線，曆史曲線可查詢顯示，具備曲線時標功能，用U盤下載曆史數據，可在軟件還原曲線並且生產(chan) Excel報表。
TST200W-55溫度衝(chong) 擊試驗箱擁有USB接口，配優(you) 盤(容量不小於(yu) 4G，不保修)一個(ge) ，PC機軟件光盤一張。
通過PC機軟件編製試驗程序並導入控製器中;也可將控製器內(nei) 的程序導入PC機進行分析和管理。
TST200W-55溫度衝(chong) 擊試驗箱可將存儲(chu) 在控製器內(nei) 記錄的試驗曲線數據轉存到優(you) 盤上。通過PC機軟件直接顯示和打印試驗數據/曲線;或將記錄數據轉換為(wei) 可由Microsoft Office讀取的Access數據文件。
故障報警及原因
斷電保護功能
日曆定時功能(自動啟動及自動停止運行)
自診斷功能
溫度：5℃～35℃
相對濕度：≤85%
氣壓：86kPa～106kPa
地麵平整，設備安裝位置的傾(qing) 斜度不超過1°
地麵承重能力不小於(yu) 600kg/m2
場地通風良好
設備周圍無強烈振動
設備周圍無強電磁場影響
設備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質和粉塵
設備周圍留有適當的使用及維護空間：
內(nei) 容積（升） | 200 |
工作室內(nei) 尺寸（mm） | W650 mm×H460 mm×D670 mm |
設備外尺寸（mm） | W1710 mm×H1850 mm×D1870 mm |
重量（kg） | 1500 |
測試環境條件 | 環境溫度為(wei) +25℃、相對濕度≤85%、大氣壓力：86～106kpa 循環冷卻水溫≤+30℃（不結冰）、循環冷卻水供水壓力為(wei) 0.3 MPa～0.45MPa |
測試方法 | GB/T 5170.2-2008 |
試驗方式 | 三廂結構，氣動風門切換2溫區或3溫區 |
預熱上限溫度 | +200℃ |
預冷下限溫度 | ﹣75℃ |
高溫衝(chong) 擊範圍 | +60℃～ +150℃ |
低溫衝(chong) 擊範圍 | -10℃～﹣55℃ |
升溫速率 | +60℃→+200℃ ≤20min |
降溫速率 | +20℃→﹣70℃≤80min |
溫度偏差 | ±2.0℃（空載） |
溫度波動度 | ≤±0.5℃(按GB/T 5170.2-1996)（空載） |
溫度恢複時間 | ≤5min (+150℃：30分鍾 ← →環境溫度：5分鍾 ← → -55℃：30分鍾) |
溫度恢複條件 | 試樣：塑料封裝集成電路（均布），傳(chuan) 感器位置：試樣的上風側(ce) 試樣重量：10KG |
噪聲 | A聲級≤75dB(A) (大門前1m離地麵高度1.2m處，自由空間中) |
